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[代理] 两探针电阻率测试台(SZT-K型两探针电阻率测试台)
SZT-K1型两探针电阻率测试台，是用来装夹棒类样品（圆或方截面），连接四探针测试仪器，进行两探针法电阻率测试的机具。是两探针法测试电阻率仪器的配套测量装置（以下简称测试台）。设计符合GB/T 1551-2009 《硅单晶电阻率测定方法》，GB/T 1551-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流两探针法》，GBT 24...
更新:2013-05-28
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[代理] 薄膜方阻直线四探针测试探头(ST2258B-F01 型薄膜方阻直线四)
ST2258B-F01 型薄膜方阻直线四探针探头，直线2+2+2 mm针距,有球形尖镀金磷铜合金探针，配以四探针仪器和测试台，用以测试柔性材料导电薄膜、金属涂层或薄膜、陶瓷或玻璃等基底上导电膜（ITO膜）或纳米涂层等半导体材料的电阻率/方阻。
更新:2013-05-28
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[代理] SZT-A型四探针测试台(SZT-A型四探针测试台)
SZT-A型四探针测试台，是用来装夹四探针探头，连接四探针测试仪器，放置样品，进行手动方式测试的机具。是四探针法测试电阻率/方块电阻（方阻）仪器的配套测量装置（以下简称测试台）。
更新:2013-05-28
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[代理] 四探针电动测试台(SZT-B型四探针电动测试台)
SZT-B型四探针电动测试台，是用来装夹四探针探头，连接四探针测试仪器，放置样品，进行自动/手动方式测试样品电阻率/方阻的机具。是四探针法测试电阻率/方电仪器的配套测量装置（以下简称测试台）。
更新:2013-05-28
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[代理] SZT-C型四探针测试台(SZT-C型四探针测试台)
SZT-C型四探针测试台，是用来装夹四探针探头，连接四探针测试仪器，放置样品，进行手动方式测试的机具。是四探针法测试电阻率/方块电阻（方阻）仪器的配套测量装置（以下简称测试台）。
更新:2013-05-28
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[代理] 半导体粉末电阻率测试台(SZT-D型半导体粉末电阻率测试台)
SZT-D型半导体粉末电阻率测试台，是连接四探针测试主机，用来装夹半导体粉末（含高分子粉末和金属粉末等），进行压力施加（压片），并同步进行电阻率测试的装置（以下简称测试台）。是四端子法测试粉末电阻率的必备配套单元。
更新:2013-05-28
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[代理] M-2型手持式数字式四探针测试仪(M-2型)
M-2型手持式数字式四探针测试仪是运用四探针测量原理测试电阻率/方阻的多用途综合测量仪器。该仪器设计符合单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国 A.S.T.M 标准。
更新:2013-05-28
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[代理] 金属质量电阻率测试台(SZT-H型)
SZT-H型金属质量电阻率测试台 配以四探针仪器构成成套测试系统，是运用四端子测量原理的专业测量金属箔类（质量）电阻率/方阻的多用途综合测量装置。（以下简称测试台）
更新:2013-05-28
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[代理] 橡塑材料电阻率测试台(SZT-G型)
SZT-G型橡塑材料电阻率测试台，配以四探针仪器构成成套测试系统，是运用四端子测量原理的专业测量橡塑材料或半导体薄膜的电阻率/方阻的多用途综合测量装置.（以下简称测试台）
更新:2013-05-28
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[代理] 光伏电池片四探针测试台(SZT-F型)
SZT-F型光伏电池片四探针测试台，配套自带四探针探头，连接四探针测试仪器后，可自动/手动方式测试样品方阻/电阻率。是四探针法测试光伏电池片方阻、电阻率的专业配套测量装置（以下简称测试台）。
更新:2013-05-28
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[代理] 超高阻微电流测试仪(ST2254型超高阻微电流测试仪)
ST2254型超高阻微电流测试仪（高阻型体电阻率表面电阻率测试仪）是运用环形三电极法原理测量固体绝缘材料体积电阻率和表面电阻率的多用途综合测量装置，也可作为超高阻计或微电流测试仪使用。该仪器设计符合国家标准GB/T 1410－2006/IEC 60093:1980：《固体绝缘材料体积电阻率和表面电阻率试验方法》。
更新:2013-05-28
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[代理] 四探针粉末电导率测试仪(ST2253型)
ST2253 型数字式四探针测试仪是运用四探针测量原理的多用途综合测量装置，它可以测量半导体材料的电阻率，测量扩散层的薄层电阻（亦称方阻）。换上特制的四探针测试夹具，还可以对金属导体的低、中值电阻进行测量。
更新:2013-05-28
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[代理] 多功能数字式四探针测试仪(ST2258A型)
ST2258A型多功能数字式四探针测试仪是运用四探针测量原理的多用途综合测量装置，它可以测量片状、块状半导体材料的电阻率，扩散层的薄层电阻（亦称方块电阻）。换上四端子测试夹具，还可对电阻器体电阻、金属导体的低、中值电阻以及开关类接触电阻进行测量。 本测试仪特赠设测试结果分类功能，***大...
更新:2013-05-28
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[代理] 数字式四探针测试仪(ST2258A型)
数字式四探针测试仪是运用四探针测量原理的多用途综合测量装置，它可以测量片状、块状半导体材料的电阻率，扩散层的薄层电阻（亦称方块电阻）。换上四端子测试夹具，还可对电阻器体电阻、金属导体的低、中值电阻以及开关类接触电阻进行测量。
更新:2013-05-28
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[代理] 超高阻微电流测试仪(ST2255型超高阻微电流测试仪)
超高阻微电流测试仪是运用环形三电极法原理测量固体绝缘材料体积电阻率和表面电阻率的多用途综合测量装置，也可作为超高阻计或微电流测试仪使用。该仪器设计符合国家标准GB/T 1410－2006/IEC 60093:1980：《固体绝缘材料体积电阻率和表面电阻率试验方法》。 超高阻微电流测试仪成套组成：由主机、标...
更新:2013-05-28
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