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SC-G玉米自动考种分析及千粒重仪系统(SC-G)

SC-G玉米自动考种分析及千粒重仪系统
供应商参考报价:面议
  供应商信息
· 杭州万深检测科技有限公司 [浙江省]
  认证企业  
联系人: 沈虹
所在城市: 浙江省 杭州
详细地址: 西湖区文二西路11号
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详细信息  

一、主要技术指标

1、配***高分辨率1600dpi × 1600dpi紫光M1彩色扫描仪,扫描分析区为A3幅面431.8mm×304.8 mm。可同时成像分析除黑玉米和杂色花玉米以外的10个玉米果穗、35个玉米截面、1000粒左右玉米籽粒。

2、配大景深的500万像素彩色拍摄仪及A3幅面超薄背光灯板,具有相机画面畸变、背光板均匀性的自动矫正特性,有效减小尺寸测量误差。

3、籽粒考种分析:

1)可分析各类种粒的直径1.020mm。玉米籽粒自动数粒速度15003000/分钟,对于直径较小的种粒(如油菜籽、蔬菜籽)单批次考种数量500010000/分钟,其它籽粒为120020000/分钟数粒误差≤±0.10.4%,监视修正即达100%正确。自动千粒重分析的精度误差±0.5%。

2具有自学习增强学习种粒颜色、形状自动分类的特性实现品种差异比对特性具有按英国皇家园林协会RHS比色卡的比色特性来分析种粒颜色

3★可根据实际需求自行创制一键自动分析向导,可自动精确考种水稻、小麦、玉米、豆类、油菜籽、瓜子、蔬菜籽等各类农作物籽粒。

4★能大批量自动分析成像后的种粒图片,自动测出籽粒数、各籽粒的粒形参数(长、宽、长宽比、面积、等效直径、周长等),以及其平均值,能精准显示种粒外接矩形,可自动排序输出,及可输出粒径分布图表

4玉米果穗、截面考种分析

1)同时成像分析玉米果穗10//分钟、玉米截面35//分钟。

2)全自动测出各玉米穗长、穗粗、秃尖长、左右穗缘角、穗行角、平均行粒数、粒厚、截面穗行数、穗粗、轴粗,以及其平均值,可自动测出各玉米截面上的平均粒长、平均粒宽等参数。

5、分析过程为全程电脑控制,高效、准确、简便易用,真正一键式操作,鼠标一点,结果即现。具有被测样本条码、电子天平RS232重量数据的自动输入接口。

6、可用鼠标选择增加/删除,或直接用鼠标在屏上手工计数,以确保100%正确目标区的个性化计数,也可对工作区视野中任选范围或矩形范围内的计数。

7、分析图像结果可保存,能自动形成总报表,统计分析结果可输出保存Excel表。

以及按宽度、长度、面积等输出的排列图和测量图。

8仪器有云平台支持,可将分析数据保存到云端随时随地查看。

 

二、标准配置

1SC-G玉米自动考种分析及千粒重仪系统软件U盘及软件锁1

2USB2.0接口的500万像系拍摄仪1

3A3幅面的紫光M1彩色扫描仪

4A3幅面超薄背光灯板1

5、带RS232通讯接口的量程220g电子天平(精度1mg1

6RS232接口通讯传输线1

7、种粒成像盘1

8、种粒收纳小盘1

备注:

1、本技术标书中打款项必须响应,否则为重大偏离

2、本产品需使用电脑,推荐:品牌电脑(12代以上酷睿i5 CPU/8G内存/无线网卡,1个USB3.0+3个USB2.0口,Windows 10或11完整专业版)。

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