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[新品] SC-E大米外观品质检测仪米质判定仪(SC-E)

SC-E大米外观品质检测仪米质判定仪
供应商参考报价:面议
  供应商信息
· 杭州万深检测科技有限公司 [浙江省]
   
联系人: 沈虹
所在城市: 浙江省 杭州
详细地址: 西湖区文二西路11号
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详细信息  

SC-E型大米外观品质检测分析仪

1用途:用于各种类大米(精米、糙米、糯米等)各项外观品质指标的精准自动检测,可进行多参数、批量化的自动分析。

2系统组成:双光源扫描成像仪及附件、分析软件和电脑(电脑另配)。

3 主要性能指标:

★配光学分辨率4800×9600、A4加长的双光源彩色扫描仪来成像(中晶 ScanMaker i800 Plus)。透扫幅面30 cm×20 cm***小像素尺寸0.0053mm ×0.0026 mm。

★可自动一次性测量分析30g以上大米样品的:垩白度/率、碎米率及小碎米率、整精米数量、整精米率、可直接检测大米透明度的国标等级(国家发明专利号ZL 2013 1 0172280.X、黄粒米、杂质量、异品种粒、不完善粒(未成熟粒),及糯米的阴米率、病斑或黄变率。还可自动分析大米的碾米精度、裂纹率,以及糙米胚芽率。

自动测量每粒的面积、长径、短径、长宽比、圆度、等效直径(长度测量误差≤±0.05mm,长宽比测量误差≤±0.05,重现性误差≤±0.02;整精米率、碎米率指标测量误差≤±1.0%、重现性误差≤±0.25%)。可大批量自动分析处理与输出结果。与国标GB/T1350稻谷、GB/T17891优质稻谷或GB1354大米、农业部新标准【大米】NY/T2334-2013、大米粒型分类判定LS/T6116-2016、粮食行业标准 大米LS/T 3247—2017等标准相对应,检测各项指标的质量比和粒数比。各分析图像、分布图、结果数据可保存,分析结果输出至Excel表,可输出分析标记图,以及按宽度、长度、面积等输出的排列图和测量图。

★具有自动学习与识别特性,可自动分割粘连的大米、种粒,可做自动分类分析。

★具有样本条码、电子天平RS232数据软件接口。可兼测的种粒范围0.25-20mm,自动数粒精度≥99%,交互修正后准确率达100%。

4.环境条件:

       温度10~30℃,相对湿度≤85%,防止强光照射。仪器应放在平稳工作台上,周围无强烈的机械振动和电磁干扰;电源要求220V±10%,50Hz。

 

注:本技术标书中打★款项必须响应,否则为重大偏离

 

选配电脑推荐:品牌一体机电脑(酷睿双核CPU / 4.0G内存/1G显存/ 500G硬盘 / 19.5”彩显/无线网卡,4个以上USB2.0口,Windows完整旗舰版)

 

 

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